فایل فلش رسمی دیمو Dimo Sarina تست شده و بدون باگ پردازنده MT6589 فول فلش و دارای تمام پارتیشن ها قابل فلش با نرم افزار SP flash tool ...
فایل فلش رسمی دیمو DIMO maron5 تست شده پردازنده MT6572 قابل فلش با نرم افزار فلش تول فول فلش و دارای تمام پارتیشن ها ...
فایل فلش فارسی دیمو Dimo baby3 تست شده بدون مشکل تصویر بهم ریخته و بدون مشکل تاچ پردازنده A23 شناسه روی برد TZX-723v1 قابل فلش با فونیکس ...
فایل فلش رسمی دیمو Dimo Sarina تست شده و بدون باگ پردازنده MT6589 فول فلش و دارای تمام پارتیشن ها قابل فلش با نرم افزار SP flash tool ...
فایل فلش رسمی دیمو DIMO maron5 تست شده پردازنده MT6572 قابل فلش با نرم افزار فلش تول فول فلش و دارای تمام پارتیشن ها ...
فایل فلش فارسی دیمو Dimo baby3 تست شده بدون مشکل تصویر بهم ریخته و بدون مشکل تاچ پردازنده A23 شناسه روی برد TZX-723v1 قابل فلش با فونیکس ...
مقاله بهبود قابلیت اطمینان از طریق آزمایش‌ها طراحی شده با اثرات تصادفی همراه با ترجمه و پاورپوینت مربوط به درس D.O.E (طراحی آزمایشات) و قابلیت اطمینان مقاله مربوط به سال 2017 می‌باشد. طراحی آزمایش ( DOE ) ابزاری مفید برای شناسایی عوامل مهم و انتخاب سطوح عامل برای بهبود قابلیت اطمینان محصول است. در عمل، افراد حرفه‌ای اغلب اثرات تصادفی که از پروتکل آزمایشی در آزمایش پایایی(قابلیت اطمینان) منتج می‌شود را نادیده می‌گیرند. در این مقاله، ما بهبود پایایی محصول را با آزمایشات طراحی شده در زمانی که تست درواقع کاملا تصادفی نباشد، بررسی می‌کنیم. توزیع Weibull برای مدل کردن طول عمر مورد استفاده قرار می‌گیرد که منجر به توزیع کمترین ارزش حداکثری در طول عمر لاگ می‌شود. اثرات تصادفی در مدل از طریق میانگین زمان شکست( MTTF )آمیخته شده‌است. قابلیت اطمینان محصول با ماکزیمم نمودن MTTF بهبود یافته‌است. مطالعه شبیه سازی نشان می‌دهد که نادیده گرفتن اثرات تصادفی در مدل سازی می‌تواند منجر به شناسایی و برآورد عوامل نامعتبر شود. همچنین ...